本文来源于公众号可靠性的边界
近期，可靠知识共享学习会交流答疑活动，截止2020年8月14日如期完成了第三个问题的答疑解决，现将情况梳理公开如下。
【答疑活动问题三】
请问HALT试验在40G振动，-50℃至90℃温度循环，20h后电路板子母板连接器故障，如何评估该HALT试验故障在运行现场多久后会发生（有部分现场的振动路谱）？如何将HALT试验振动量级，与普通随机振动量级对应（以作为HALT试验故障，是否需要更改的依据）？
【会员交流讨论主要情况】
范会员：
HALT的本质是研制初期暴露产品缺陷，再改进提高产品可靠性。但目前也有用高加速试验去代替可靠性增长，或者用于可靠性评估的案例，一般是强化试验产品做坏，加速不一定做坏。
尹会员：
HALT是比较先进、有效的暴露缺陷的方式，所以针对小的机箱和电路板采用这种试验方式去激发缺陷。HALT是一种偏向于定性的激发产品缺陷的方式，针对HALT的试验应力的加速关系（与ALT试验有些不同），现在研究成果/共识还较少。HALT判断风险比较困难，就是现在经常、切实会面临的问题。发现这是薄弱点，但要不要改（有没有过应力、失效机理是怎样），就是工程上需面临的情况。
康教授：
试验中施加的应力是造成产品失效的外因，要认清失效机理必须内外因综合考虑，建立退化方程求解加速因子。
李会员：
先不说HALT这种过应力的实验激发的故障，公司投入解决问题的资源比较少，就是不过应力激发的一些故障有些都不愿意投入资源去解决，仅做风险评估。
张博士：
就职的几家公司没有一家做严格意义上的HALT原始版，但我也知道有的公司很重视。我想这里可能有两个道理。第一，要看是什么产品，我在过的公司都是做最终系统，原始版的HALT不太合适。当然我们也有测板子的，也不用HALT。第二, HALT是一种试验思想，这样想它还是很有用，但不一定大死板了。
【整体结论】
在此，先非常感谢各位会员的积极参与与分享交流。通过一周时间的线上会员交流讨论，大家提了一些自己的见解，让提出疑问的会员朋友有了一些思路。首先HALT 可以作为一种试验思想，要看具体产品，本质是能够快速暴露产品开发初期的缺陷，再改进提升产品可靠性。
以上内容，若有不正确，请指导修正，欢迎持续讨论，谢谢！
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